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Dependence of impact ionization and kink on surface-deep-level dynamics in AlGaAs/GaAs HFETs 1-gen-2001 Mazzanti, Andrea; G., Verzellesi; L., Vicini; C., Canali; A., Chini; G., Meneghesso; E., Zanoni; C., Lanzieri
Gate-lag effects in AlGaAs/GaAs power HFET's 1-gen-2001 M., Borgarino; G., Sozzi; Mazzanti, Andrea; G., Verzellesi
Influence of surface-trap dynamics on impact-ionization and kink phenomena in AlGaAs/GaAs HFETs 1-gen-2001 Mazzanti, Andrea; G., Verzellesi; C., Canali; A., Chini; G., Meneghesso; E., Zanoni; C., Lanzieri
Numerical analysis of hot electron degradation modes in power HFETs 1-gen-2002 Mazzanti, Andrea; G., Verzellesi; C., Canali; G., Sozzi; R., Menozzi
Deep-level characterization in 6H-SiC JFETs by means of two-dimensional device simulations 1-gen-2002 G., Verzellesi; G., Meneghesso; Mazzanti, Andrea; C., Canali; E., Zanoni
Measurements and simulations of hot-carrier degradation effects in AlGaAs/GaAs HFETs 1-gen-2002 Mazzanti, Andrea; G., Verzellesi; A. F., Basile; C., Canali; G., Sozzi; R., Menozzi
Physics-Based Explanation of Kink Dynamics in AlGaAs/GaAs HFETs 1-gen-2002 Mazzanti, Andrea; G., Verzellesi; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni
Physical investigation of trap-related effects in power HFETs and their reliability implications 1-gen-2002 Mazzanti, Andrea; G., Verzellesi; G., Sozzi; R., Menozzi; C., Lanzieri; C., Canali
Experimental and numerical analysis of gate- and drain-lag phenomena in AlGaAs/InGaAs PHEMTs 1-gen-2002 A. F., Basile; Mazzanti, Andrea; E., Manzini; G., Verzellesi; C., Canali; R., Pierobon; C., Lanzieri
Serendipitous noise reduction in inductively degenerated CMOS RF LNAs 1-gen-2003 Rossi, Paolo; Svelto, Francesco; Mazzanti, Andrea; Andreani, Piero
Experimental and numerical assessment of gate-lag phenomena in AlGaAs-GaAs heterostructure field-effect transistors (FETs) 1-gen-2003 G., Verzellesi; Mazzanti, Andrea; Af, Basile; A., Boni; E., Zanoni; C., Canali
Energetic and spatial localisation of deep-level traps responsible for DC-to-RF dispersion effects in AlGaAs-GaAs HFETs 1-gen-2003 G., Verzellesi; A., Basile; Mazzanti, Andrea; A., Cavallini; C., Canali
Impact of temperature on surface-trap-induced gate-lag effects in GaAs heterostructure FETs 1-gen-2003 G., Verzellesi; A., Basile; Mazzanti, Andrea; C., Canali; G., Meneghesso; E., Zanoni
Injection Locking LC Dividers for low Power Quadrature Generation 1-gen-2003 Uggetti, Paola; Rossi, Paolo; Mazzanti, Andrea; Svelto, Francesco
Study on the origin of dc-to-RF dispersion effects in GaAs- and GaN-based heterostructure FETs 1-gen-2003 G., Verzellesi; Mazzanti, Andrea; C., Canali; G., Meneghesso; A., Chini; E., Zanoni
Analysis and design of Injection Locked LC Dividers for Quadrature Generation 1-gen-2004 Mazzanti, Andrea; Uggetti, Paola; Svelto, Francesco
Injection locked Coupled VCOs for Low Phase Noise and High Accuracy Quadrature Generation 1-gen-2004 Mazzanti, Andrea; Uggetti, Paola; Svelto, Francesco
Injection Locked Oscillators for Quadrature Generation at Radio Frequency 1-gen-2004 Mazzanti, Andrea; Svelto, Francesco
Analysis and Design of a Dual Band Reconfigurable VCO 1-gen-2004 Mazzanti, Andrea; Uggetti, Paola; Svelto, Francesco; Battaglia, Roberto
Reduced impact of induced gate noise on inductively degenerated LNAs in deep submicron CMOS technologies 1-gen-2005 Rossi, P.; Svelto, Francesco; Mazzanti, Andrea; Andreani, Pietro
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