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Oxide breakdown after RF stress: experimental analysis and effects on power amplifier operation
2006-01-01 L., Larcher; Sanzogni, Davide; Brama, Riccardo; Mazzanti, Andrea; Svelto, Francesco
"Clock Recovery and equalization techniques for lossy channels in multi Gb/s serial links”
2008-01-01 M., Pozzoni; S., Erba; P., Viola; Pisati, Matteo; E., Depaoli; Sanzogni, Davide; Brama, Riccardo; D., Baldi; Repossi, Matteo; Svelto, Francesco
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Oxide breakdown after RF stress: experimental analysis and effects on power amplifier operation | 1-gen-2006 | L., Larcher; Sanzogni, Davide; Brama, Riccardo; Mazzanti, Andrea; Svelto, Francesco | |
"Clock Recovery and equalization techniques for lossy channels in multi Gb/s serial links” | 1-gen-2008 | M., Pozzoni; S., Erba; P., Viola; Pisati, Matteo; E., Depaoli; Sanzogni, Davide; Brama, Riccardo; D., Baldi; Repossi, Matteo; Svelto, Francesco |
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