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Experimental evaluation of a low-power sense comparator for multilevel Flash memories 1-gen-2002 Cabrini, Alessandro; R., Micheloni; O., Khouri; Gregori, Stefano; Torelli, Guido
A 0.13-µm CMOS NOR Flash memory experimental chip for 4-b/cell digital storage 1-gen-2002 R., Micheloni; O., Khouri; Gregori, Stefano; Cabrini, Alessandro; G., Campardo; L., Fratin; Torelli, Guido
Improved charge pump for Flash memory applications in triple-well CMOS technology 1-gen-2002 O., Khouri; Gregori, Stefano; Cabrini, Alessandro; R., Micheloni; Torelli, Guido
High-accuracy program scheme for multilevel Flash memories 1-gen-2003 Gregori, Stefano; Cabrini, Alessandro; O., Khouri; R., Micheloni; Torelli, Guido
Algorithm for automatic design of maximum-efficiency Dickson charge pumps 1-gen-2003 Bonizzoni, Edoardo; Cabrini, Alessandro; O., Khouri; Torelli, Guido
A test chip for contact and via failure analysis for 90-nm copper interconnect CMOS technology 1-gen-2003 Cabrini, Alessandro; P., Cappelletti; D., Iezzi; M., Pasotti; A., Maurelli; Torelli, Guido
Voltage-mode closed-loop sense amplifier for multilevel Flash memories 1-gen-2003 O., Khouri; Cabrini, Alessandro; Gregori, Stefano; R., Micheloni; Torelli, Guido
On-chip error correcting techniques for new-generation flash memories 1-gen-2003 Gregori, Stefano; Cabrini, Alessandro; O., Khouri; Torelli, Guido
A small-size, fast-settling, low-cost thermal regulator for chip surface measurements 1-gen-2004 Baderna, Davide; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
High input range sense comparator for multilevel Flash memories 1-gen-2004 Cabrini, Alessandro; R., Micheloni; O., Khouri; Gregori, Stefano; Torelli, Guido
A theoretical discussion on performance limits of CMOS charge pumps 1-gen-2005 Cabrini, Alessandro; Gobbi, Laura; Torelli, Guido
A 1.2 V sense amplifier for high-performance embeddable NOR Flash memories 1-gen-2005 Baderna, Davide; Cabrini, Alessandro; G., De Sandre; F., De Santis; M., Pasotti; Rossini, Andrea; Torelli, Guido
A failure analysis test structure for deep sub-micron CMOS copper interconnect technologies 1-gen-2005 Cabrini, Alessandro; D., Cantarelli; P., Cappelletti; R., Casiraghi; D., Iezzi; A., Maurelli; M., Pasotti; P. L., Rolandi; Torelli, Guido
CMOS discrete-time chaotic circuit for low-power embedded cryptosystems 1-gen-2005 Gregori, S.; Cabrini, Alessandro
Use of the non-linear Chua's circuit for on-line offset calibration of ADC 1-gen-2005 Cabrini, Alessandro; Maloberti, Franco
A 1 V, 26 µW extended temperature range band-gap reference in 130-nm CMOS technology 1-gen-2005 Cabrini, Alessandro; G., De Sandre; Gobbi, Laura; Malcovati, Piero; M., Pasotti; M., Poles; F., Rigoni; Torelli, Guido
High-efficiency control structure for CMOS Flash memory charge pumps 1-gen-2005 Boffino, Chiara; Cabrini, Alessandro; O., Khouri; Torelli, Guido
Novel test strategy for statistical evaluation of defect density and reliability of contacts and vias 1-gen-2005 Cabrini, Alessandro; D., Cantarelli; P., Cappelletti; R., Casiraghi; D., Iezzi; C., Lombardi; A., Maurelli; M., Pasotti; P. L., Rolandi; Torelli, Guido
Efficiency comparison between doubler and Dickson charge pumps 1-gen-2005 Baderna, Davide; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido; M., Pasotti
High-efficiency regulated charge pump for nonvolatile memories 1-gen-2006 Cabrini, Alessandro; Fantini, Andrea; Torelli, Guido
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