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	Titolo	Data di pubblicazione	Autore(i)
1	Analog design criteria for high-granularity detector readout in the 65 nm CMOS technology	2012	Manghisoni M.; Gaioni L.; Ratti L.; Re V.; Traversi G.
2	Development of deep N-well MAPS in a 130 nm CMOS technology and beam test results on a 4k-pixel matrix with digital sparsified readout	2008	Rizzo G.; Avanzini C.; Batignani G.; Bettarini S.; Bosi F.; Calderini G.; Ceccanti M.; Cenci R.; Cervelli A.; Cresciol F.; Dell'Orsoa M.; Forti F.; Giannetti P.; Giorgi M.A.; Lusiani A.; Gregucci S.; Mammini P.; Marchiori G.; Massa M.; Morsani F.; Neri N.; Paoloni E.; Piendibene M.; Sartori L.; Walsh J.; Yurtsev E.; Manghisoni M.; Re V.; Traversic G.; Bruschi M.; Sipio R.D.; Giacobbe B.; Gabrielli A.; Giorgi E.; Pellegrini G.; Sbarra C.; Semprini N.; Spighi R.; Valentinetti S.; Villa M.; Zoccoli A.; Andreoli C.; Gaioni L.; Pozzati E.; Ratti L.; Speziali V.; Gamba D.; Giraudo G.; Mereu P.; Betta G.F.D.; Soncini G.; Fontana G.; Bombe M.; Bosisk L.; Cristaudo P.; Giacomini G.; Jugovaz D.; Lanceri L.; Rashevskaya I.; Vitale L.; Venier G.
3	High Accuracy Injection Circuit for Pixel-Level Calibration of Readout Electronics	2010	Manghisoni M.; Quartieri E.; Ratti L.; Traversi G.
4	Evaluation of the radiation tolerance of 65 nm CMOS devices for high-density front-end electronics	2010	Gaioni L.; Manghisoni M.; Ratti L.; Re V.; Traversi G.
5	Channel hot carrier stress on irradiated 130-nm NMOSFETs: impact of bias conditions during X-ray exposure	2007	Silvestri M.; Gerardin S.; Paccagnella A.; Faccio F.; Gonella L.; Pantano D.; Re V.; Manghisoni M.; Ratti L.; Ranieri A.
6	Front-end performance and charge collection properties of heavily irradiated DNW MAPS	2009	Ratti L.; Dellagiovanna M.; Manghisoni M.; Re V.; Traversi G.; Zucca S.; Bettarini S.; Morsani F.; Rizzo G.
7	Vertical integration approach to the readout of pixel detectors for vertexing applications	2012	Manazza A.; Gaioni L.; Manghisoni M.; Ratti L.; Re V.; Traversi G.; Zucca S.
8	Radiation hardness test of FSSR, a multichannel, mixed signal chip for microstrip detector readout	2005	Ratti L.; Manghisoni M.; Re V.; Traversi G.; Candelori A.
9	3D DNW MAPS for high resolution, highly efficient, sparse readout CMOS detectors	2009	Ratti L.; Gaioni L.; Manazza A.; Manghisoni M.; Re V.; Traversi G.
10	The associative memory for the self-triggered SLIM5 silicon telescope	2008	Batignani G.; Bettarinil S.; Calderini G.; Cenci R.; Cervelli A.; Crescioli F.; Dell'Orso M.; Forti F.; Giannetti P.; Giorgil M.A.; Lusiani A.; Grcgucci S.; Marchiori G.; Morsani F.; Neri N.; Paoloni E.; Piendibene M.; Rizzo G.; Sartori L.; Walsh J.; Yurstev E.; Andreoli C.; Gaioni L.; Pozzati E.; Ratti L.; Speziali V.; Manghisoni M.; Re V.; Traversi G.; Bomben M.; Bosisio L.; Giacomini G.; Lanceri L.; Rachevskaia I.; Vitale L.; Gamba D.; Bruschi M.; Di Sipio R.; Giacobbe B.; Gabrielli A.; Giorgi F.; Pellegrini G.; Sbarra C.; Semprini N.; Spighi R.; Valentinetti S.; Villa M.; Zoccoli A.