Development of deep N-well MAPS in a 130 nm CMOS technology and beam test results on a 4k-pixel matrix with digital sparsified readout

Rizzo G.;Avanzini C.;Batignani G.;Bettarini S.;Bosi F.;Calderini G.;Ceccanti M.;Cenci R.;Cervelli A.;Cresciol F.;Dell'Orsoa M.;Forti F.;Giannetti P.;Giorgi M. A.;Lusiani A.;Gregucci S.;Mammini P.;Marchiori G.;Massa M.;Morsani F.;Neri N.;Paoloni E.;Piendibene M.;Sartori L.;Walsh J.;Yurtsev E.;Manghisoni M.;Re V.;Traversic G.;Bruschi M.;Sipio R. D.;Giacobbe B.;Gabrielli A.;Giorgi E.;Pellegrini G.;Sbarra C.;Semprini N.;Spighi R.;Valentinetti S.;Villa M.;Zoccoli A.;Andreoli C.;Gaioni L.;Pozzati E.;RATTI, LODOVICO;SPEZIALI, VALERIA;Gamba D.;Giraudo G.;Mereu P.;Betta G. F. D.;Soncini G.;Fontana G.;Bombe M.;Bosisk L.;Cristaudo P.;Giacomini G.;Jugovaz D.;Lanceri L.;Rashevskaya I.;Vitale L.;Venier G.

2008-01-01