Sfoglia per Rivista IEE PROCEEDINGS. PART I. SOLID-STATE AND ELECTRON DEVICES
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Edge Effects in Glass-passivated Collector-base Junctions of High-voltage Transistors
1982-01-01 Savini, Antonio; Dallago, Enrico; Felici, M.; Panigada, M.; Versiglia, F.
Integrated protection circuit against the forward biasing of the input junction in digital MOS ICs
1983-01-01 Torelli, Guido; G., Salomone
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Edge Effects in Glass-passivated Collector-base Junctions of High-voltage Transistors | 1-gen-1982 | Savini, Antonio; Dallago, Enrico; Felici, M.; Panigada, M.; Versiglia, F. | |
Integrated protection circuit against the forward biasing of the input junction in digital MOS ICs | 1-gen-1983 | Torelli, Guido; G., Salomone |
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