Optimized digital feature extraction in the FERMI microsystem

H. Alexanian;G. Appelquist;P. Bailly;R. Benetta;S. Berglund;J. Bezamat;F. Blouzon;C. Bohm;L. Breveglieri;S. Brigati;L. Dadda;J. David;M. Engström;J. F. Genat;M. Givoletti;GOGGI, VIRGINIO GIORGIO;S. Gong;G. M. Grieco;M. Hansen;H. Hentzell;T. Holmberg;I. Höglund;S. J. Inkinen;A. Kerek;C. Landi;O. LeDortz;M. Lippi;B. Lofstedt;B. Lund Jensen;MALOBERTI, FRANCO;S. Mutz;P. Nayman;V. Piuri;G. Polesello;M. Sami;A. Savoy Navarro;P. Schwemling;R. Stefanelli;R. Sundblad;C. Svensson;TORELLI, GUIDO;J. P. Vanuxem;N. Yamdagni;J. Yuan;A. Ödmark;P. W. Cattaneo

1995-01-01