Ionizing Radiation Effects on the Noise of 65 nm CMOS Transistors for Pixel Sensor Readout at Extreme Total Dose Levels

Ratti, Lodovico;
2018-01-01

File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
3-pre-TNS2777741_65nm_extr-total-dose.pdf

accesso aperto

Tipologia: Documento in Pre-print
Licenza: Creative commons
Dimensione 1.14 MB
Formato Adobe PDF
1.14 MB Adobe PDF Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11571/1209318
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 8
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 7
social impact