IRIS

Heavily Irradiated 65-nm Readout Chip With Asynchronous Channels for Future Pixel Detectors

Ratti, L.;
2018-01-01
2018
Electrical & Electronics Engineering
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
sì
WOS:000447830800004
2-s2.0-85053623763
Esperti anonimi
Inglese
Internazionale
STAMPA
65
10
2699
2706
8
Analog front ends, CMOS processes, electronic noise, ionizing radiation effects, pixel readout
7
info:eu-repo/semantics/article
262
Gaioni, L.; De Canio, F.; Manghisoni, M.; Ratti, L.; Re, V.; Sonzogni, M.; Traversi, G.
1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
none
1.1 Articolo in rivista
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