Noise degradation induced by γ-rays on P- and N-channel junction field-effect transistors / Manfredi P.F.; Ratti L. ; Re V.; Speziali V.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - 46:(1999), pp. 1294-1299. [10.1109/23.795806]
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Titolo: | Noise degradation induced by γ-rays on P- and N-channel junction field-effect transistors | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 1999 | |
Rivista: | ||
Handle: | http://hdl.handle.net/11571/131552 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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