Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results

Neri N.;Avanzini C.;Batignani G.;Bettarini S.;Bosi F.;Ceccanti M.;Cenci R.;Cervelli A.;Crescioli F.;Dell'Orso M.;Forti F.;Giannetti P.;Giorgi M. A.;Gregucci S.;Mammini P.;Marchiori G.;Massa M.;Morsani F.;Paoloni E.;Piendibene M.;Profeti A.;Rizzo G.;Sartori L.;Walsh J.;Yurtsev E.;Lusiani A.;Manghisoni M.;Re V.;Traversi G.;Bruschi M.;Di Sipio R.;Fabbri L.;Giacobbe B.;Gabrielli A.;Giorgi F.;Pellegrini G.;Sbarra C.;Semprini N.;Spighi R.;Valentinetti S.;Villa M.;Zoccoli A.;Andreoli C.;Gaioni L.;Pozzati E.;RATTI, LODOVICO;SPEZIALI, VALERIA;Gamba D.;Giraudo G.;Mereu P.;Dalla Betta G. F.;Soncini G.;Fontana G.;Bomben M.;Bosisio L.;Cristaudo P.;Giacomini G.;Iugovaz D.;Lanceri L.;Rashevskaya I.;Vitale L.;Venier G.

2010-01-01