Total Ionizing Dose effects in 130-nm commercial CMOS technologies for HEP experiments / Gonella L.; Faccio F.; Silvestri M.; Gerardin S.; Pantano D.; Re V.; Manghisoni M.; Ratti L.; Ranieri A.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 582:3(2007), pp. 750-754.
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Titolo: | Total Ionizing Dose effects in 130-nm commercial CMOS technologies for HEP experiments |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2007 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11571/31898 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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