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4.1 Contributo in Atti di convegno: [19048] Home page tipologia

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Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 6.761 a 6.780 di 19.048
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Epilessia temporale monofocale e disturbi della memoria 1-gen-1984 Antonaci, Fabio; Savarese, M; Tafuro, A; Tarascio, G; Puca, Fm
Noise analysis of NPN SOI bipolar transistors for the design of charge measuring systems 1-gen-2003 Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Traversi, G.; Manghisoni, M.; Re, V.; Fallica, G.; Leonardi, S.
Performance of the BaBar silicon vertex tracker 1-gen-2002 Re, V.; Borean, C.; Bozzi, C.; Carassiti, V.; Cotta Ramusino, A.; Piemontese, L.; Breon, A. B.; Brown, D.; Clark, A. R.; Goozen, F.; Hernikl, C.; Kerth, L. T.; Gritsan, A.; Lynch, G.; Perazzo, A.; Roe, N. A.; Zizka, G.; Roberts, D.; Schieck, J.; Brenna, E.; Citterio, M.; Lanni, F.; Palombo, F.; Ratti, Lodovico; Manfredi, P. F.; Angelini, C.; Batignan, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bosi, F.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ceccanti, M.; Forti, F.; Gagliardi, D.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Mammini, P.; Morganti, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Profeti, A.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Simi, G.; Triggiani, G.; Walsh, J.; Burchat, P.; Cheng, C.; Kirkby, D.; Meyer, T. I.; Roat, C.; Bona, M. Bianchi F.; Gamba, D.; Trapani, P.; Bosisio, L.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Lanceri, L.; Pompili, A.; Poropat, P.; Rashevskaia, I.; Vuagnin, G.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Hale, D.; Hart, P.; Kuznetsova, N.; Kyre, S.; Levy, S.; Long, O.; May, J.; Mazur, M.; Richman, J.; Verkerke, W.; Witherell, M.; Beringer, J.; Eisner, A. M.; Frey, A.; Grillo, A. A.; Grothe, M.; Johnson, R. P.; Kroeger, W.; Lockman, W. S.; Pulliam, T.; Rowe, W.; Schmitz, R. E.; Seiden, A.; Spencer, E. N.; Turri, M.; Walkowiak, W.; Wilder, M.; Wilson, M.; Charles, E.; Elmer, P.; Nielsen, J.; Orejudos, W.; Scott, I.; Zobernig, H.
Noise behavior under gamma-irradiation of 0.35 um CMOS transistors 1-gen-2000 Manghisoni, M.; Ratti, Lodovico; Re, V.; Speziali, Valeria
An ionization chamber shower detector for the LHC luminosity monitor 1-gen-2000 Beche, J. F.; Burks, M. T.; Datte, P. S.; Haguenauer, M.; Manfredi, P. F.; Millaud, J. E.; Placidi, M.; Ratti, Lodovico; Re, V.; Riot, V. J.; Schmickler, H.; Speziali, Valeria; Turner, W. C.
The analog signal processing system for the Auger fluorescence detector prototype 1-gen-2000 Argiro, S.; Camin, D. V.; Cattaneo, P.; Cuautle, M.; Destro, M.; Facal, P.; Gariboldi, R.; Grassi, V.; Lapolla, M.; Manfredi, P.; Menichetti, E.; Privitera, P.; Ratti, Lodovico; Re, V.; Speziali, Valeria; Trapani, P.; Tusi, E.
Deep submicron CMOS transistors for low-noise front-end systems 1-gen-2001 Manghisoni, M.; Ratti, Lodovico; Re, V.; Speziali, Valeria
Optimization of signal extraction and front-end design in a fast, multigap ionization chamber 1-gen-2001 Datte, P. S.; Manfredi, P. F.; Millaud, J. E.; Placidi, M.; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Traversi, G.; Turner, W. C.
The BaBar Silicon Vertex Tracker: Performance, running experience and radiation damage studies 1-gen-2001 Re, V.; Borean, C.; Bozzi, C.; Carassiti, V.; Cotta Ramusino, A.; Piemontese, L.; Breon, A. B.; Brown, D.; Clark, A. R.; Goozen, F.; Hernikl, C.; Kerth, L. T.; Gritsan, A.; Lynch, G.; Perazzo, A.; Roe, N. A.; Zizka, G.; Roberts, D.; Schieck, J.; Brenna, E.; Citterio, M.; Lanni, F.; Palombo, F.; Ratti, Lodovico; Manfredi, P. F.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bosi, F.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ceccanti, M.; Forti, F.; Gagliardi, D.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Mammini, P.; Morganti, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Profeti, A.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Simi, G.; Triggiani, G.; Walsh, J.; Burchat, P.; Cheng, C.; Kirkby, D.; Meyer, T. I.; Roat, C.; Bona, M.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Trapani, P.; Bosisio, L.; della Ricca, G.; Dittongo, S.; Lanceri, L.; Pompili, A.; Poropat, P.; Rashevskaia, I.; Vuagnin, G.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Hale, D.; Hart, P.; Kuznetsova, N.; Kyre, S.; Levy, S.; Long, O.; May, J.; Mazur, M.; Richman, J.; Verkerke, W.; Witherell, M.; Beringer, J.; Eisner, A. M.; Frey, A.; Grillo, A. A.; Grothe, M.; Johnson, R. P.; Kroeger, W.; Lockman, W. S.; Pulliam, T.; Rowe, W.; Schmitz, R. E.; Seiden, A.; Spencer, E. N.; Turri, M.; Walkoviak, W.; Wilder, M.; Wilson, M.; Charles, E.; Elmer, P.; Nielsen, J.; Orejudos, W.; Scott, I.; Zobernig, H.; Laplace, S.
Proton induced damage in JFET transistors and charge preamplifiers on high-resistivity silicon 1-gen-2004 Dalla Betta, G. F.; Manghisoni, M.; Ratti, Lodovico; Re, V.; Speziali, Valeria; Traversi, G.; Candelori, A.
Instrumentation for noise measurements on CMOS transistors for fast detector preamplifiers 1-gen-2002 Manghisoni, M.; Ratti, Lodovico; Re, V.; Speziali, Valeria
Development of a fabrication technology for silicon microstrip detectors with integrated electronics 1-gen-2002 Dalla Betta, G. F.; Boscardin, M.; Gregori, P.; Zorzi, N.; Pignatel, G. U.; Soncini, G.; Batignani, G.; Giorgi, M.; Bosisio, L.; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Re, V.
Performance, radiation damage and future plans of the BaBar Silicon Vertex Tracker 1-gen-2003 Re, V.; Kirkby, D.; Bruinsma, M.; Benyhill, J.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Hale, D.; Hart, P.; Kyre, S.; Levy, S.; Long, O.; Mazur, M.; Richman, J.; Stoner, J.; Verkerke, W.; Beringer, J.; Beck, T.; Eisner, A. M.; Grothe, M.; Lockman, W. S.; Pulliam, T.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Walkowiak, W.; Wilson, M.; Borean, C.; Bozzi, C.; Piemontese, L.; Breon, A. B.; Brown, D.; Charles, E.; Clark, A. R.; Dardin, S.; Goozen, F.; Kerth, L. T.; Gritsan, A.; Lynch, G.; Perazzo, A.; Roe, N. A.; Zizka, G.; Lillard, V.; Roberts, D.; Brenna, E.; Citterio, M.; Lanni, F.; Palombo, F.; Ratti, Lodovico; Manfredi, P. F.; Mandelli, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bosi, F.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ceccanti, M.; Forti, F.; Gagliardi, D.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Profeti, A.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Simi, G.; Walsh, J.; Elmer, P.; Burchat, P.; Cheng, C.; Edwards, A. J.; Meyer, T. I.; Petersen, B. A.; Roat, C.; Bona, M.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Trapani, P.; Bosisio, L.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Lanceri, L.; Rashevskaia, I.; Vitale, L.; Vuagnin, G.; Datta, M.; Liu, R.; Mihalyi, A.
Lessons learned from babar silicon vertex tracker, limits and future perspectives of the detector 1-gen-2004 Re, V.; Bruinsma, M.; Curry, S.; Kirkby, D.; Berryhill, J.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Hale, D.; Hart, P.; Kyre, S.; Levy, S.; Long, O.; Mazur, M.; Richman, J.; Stoner, J.; Verkerke, W.; Beck, T.; Eisner, A. M.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Nesom, G.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Walkowiak, W.; Wilson, M.; Bozzi, C.; Cibinetto, G.; Piemontese, L.; Breon, A. B.; Brown, D.; Charles, E.; Clark, A. R.; Dardin, S.; Goozen, F.; Kerth, L. T.; Gritsan, A.; Lynch, G.; Perazzo, A.; Roe, N. A.; Zizka, G.; Lillard, V.; Roberts, D.; Lazzaro, A.; Palombo, F.; Ratti, Lodovico; Manfredi, P. F.; Mandelli, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bosi, F.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ceccanti, M.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Profeti, A.; Rama, M.; Rizzo, G.; Simi, G.; Walsh, J.; Elmer, P.; Burchat, P.; Edwards, A. J.; Majewski, S.; Petersen, B. A.; Roat, C.; Bona, M.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Trapani, P.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Lanceri, L.; Grancagnolo, S.; Vitale, L.; Datta, M.; Mihalyi, A.
Radiation hardness test of FSSR, a multichannel, mixed signal chip for microstrip detector readout 1-gen-2005 Ratti, Lodovico; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Candelori, A.
Proposal of a data sparsification unit for a mixed-mode MAPS detector 1-gen-2007 Gabrielli, A.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Massa, M.; Cervelli, A.; Andreoli, C.; Pozzati, E.; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.; Dalla Betta, G. F.; Soncini, G.; Fontana, G.; Pancheri, L.; Verzellesi, G.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Bruschi, M.; Giacobbe, B.; Semprini, N.; Spighi, R.; Villa, M.; Zoccoli, A.
Recent development on triple well 130 nm CMOS MAPS with in-pixel signal processing and data sparsification capability 1-gen-2007 Rizzo, G.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Walsh, J.; Andreoli, C.; Gaioni, L.; Pozzati, E.; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversa, G.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Giacomini, G.; Lanceri, L.; Rachevskaia, I.; Vitale, L.; Dalla Betta, G. F.; Soncini, G.; Fontana, G.; Pancheri, L.; Verzellesi, G.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Bruschi, M.; Gabriels, A.; Giacobbe, B.; Semprini, N.; Spighi, R.; Villas, M.; Zoccoli, A.
Channel hot carrier stress on irradiated 130-nm NMOSFETs: impact of bias conditions during X-ray exposure 1-gen-2007 Silvestri, M.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.; Faccio, F.; Gonella, L.; Pantano, D.; Re, V.; Manghisoni, M.; Ratti, Lodovico; Ranieri, A.
New effects observed in the BaBar silicon vertex tracker: interpretation and estimate of their impact on the future performance of the detector 1-gen-2005 Re, V.; Bondioli, M.; Bruinsma, M.; Curry, S.; Kirkby, D.; Berryhill, J.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hale, D.; Kyre, S.; Richman, J.; Stoner, J.; Verkerke, W.; Beck, T.; Eisner, A. M.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Nesom, G.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Wilson, M.; Winstrom, L.; Bozzi, C.; Cibinetto, G.; Piemontese, L.; Brown, D.; Charles, E.; Dardin, S.; Goozen, F.; Gritsan, A.; Kerth, L. T.; Lynch, G.; Roe, N. A.; Chen, C.; Lae, C. K.; Roberts, D.; Simi, G.; Lazzaro, A.; Palombo, F.; Snoek, H. L.; Ratti, Lodovico; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ceccanti, M.; Cenci, R.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Mammini, P.; Manfredi, P. F.; Marchiori, G.; Mazur, M.; Morganti, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Profeti, A.; Rama, M.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Elmer, P.; Long, O.; Perazzo, A.; Burchat, P.; Edwards, A. J.; Majewski, S. A.; Petersen, B. A.; Bona, M.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Trapani, P.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Datta, M.; Mihalyi, A.
Deep N-well CMOS MAPS with in-pixel signal processing and sparsification capabilities for the ILC vertex detector 1-gen-2007 Traversi, G.; Manghisoni, M.; Re, V.; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria
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  • 4 Contributo in Atti di Convegno ...19048
Autore
  • GAMBA, PAOLO ETTORE378
  • MALOBERTI, FRANCO371
  • FERRARI, FRANCA351
  • ROSSI, SILVIA STEFANIA344
  • CARAMELLA, CARLA MARCELLA341
  • BONFERONI, MARIA CRISTINA323
  • BOZZI, MAURIZIO293
  • MALCOVATI, PIERO276
  • PERREGRINI, LUCA276
  • SANDRI, GIUSEPPINA265
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa63
  • 2020 - 20261634
  • 2010 - 20195689
  • 2000 - 20098699
  • 1990 - 19992274
  • 1980 - 1989633
  • 1971 - 197956
Editore
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  • IEEE (The Institute of Electrical...159
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