Device Matching Measurements in 28-nm Technology for High Energy Physics Experiments

M. Elkhayat;MANGIAROTTI, STEFANO;DE BERTI, CLAUDIO;GRASSI, MARCO;MALCOVATI, PIERO;
2016-01-01

2016
9781509061136
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11571/1176824
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 2
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact