Neural spatial pattern recognition of defects in semiconductor manufacturing / Pasquinetti E.; G. Miraglia; F. Piccinini; De Nicolao Giuseppe. - In: ATTI DELLA FONDAZIONE GIORGIO RONCHI. - ISSN 0391-2051. - STAMPA. - 49:1-2(2004), pp. 143-146. ((Intervento presentato al convegno Applicazione delle reti neurali nell'ingegneria elettrica e dell'informazione tenutosi a Pavia nel May 26-27, 2003.

Neural spatial pattern recognition of defects in semiconductor manufacturing

DE NICOLAO, GIUSEPPE
2004

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