CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishNeural spatial pattern recognition of defects in semiconductor manufacturing / Pasquinetti E.; G. Miraglia; F. Piccinini; De Nicolao Giuseppe. - In: ATTI DELLA FONDAZIONE GIORGIO RONCHI. - ISSN 0391-2051. - STAMPA. - 49:1-2(2004), pp. 143-146. ((Intervento presentato al convegno Applicazione delle reti neurali nell'ingegneria elettrica e dell'informazione tenutosi a Pavia nel May 26-27, 2003.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
http://hdl.handle.net/11571/19242| Titolo: | Neural spatial pattern recognition of defects in semiconductor manufacturing |
| Autori interni: | DE NICOLAO, GIUSEPPE |
| Data di pubblicazione: | 2004 |
| Rivista: | ATTI DELLA FONDAZIONE GIORGIO RONCHI |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11571/19242 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Copyright © 2017