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EnglishNeural spatial pattern recognition of defects in semiconductor manufacturing / Pasquinetti E.; G. Miraglia; F. Piccinini; De Nicolao Giuseppe. - In: ATTI DELLA FONDAZIONE GIORGIO RONCHI. - ISSN 0391-2051. - STAMPA. - 49:1-2(2004), pp. 143-146. ((Intervento presentato al convegno Applicazione delle reti neurali nell'ingegneria elettrica e dell'informazione tenutosi a Pavia nel May 26-27, 2003.
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| Titolo: | Neural spatial pattern recognition of defects in semiconductor manufacturing |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2004 |
| Rivista: | |
| Citazione: | Neural spatial pattern recognition of defects in semiconductor manufacturing / Pasquinetti E.; G. Miraglia; F. Piccinini; De Nicolao Giuseppe. - In: ATTI DELLA FONDAZIONE GIORGIO RONCHI. - ISSN 0391-2051. - STAMPA. - 49:1-2(2004), pp. 143-146. ((Intervento presentato al convegno Applicazione delle reti neurali nell'ingegneria elettrica e dell'informazione tenutosi a Pavia nel May 26-27, 2003. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11571/19242 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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