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EnglishSurvey of noise performances and scaling effects in deep submicron CMOS devices from different foundries / Re V.; Manghisoni M.; Ratti L.; Speziali V.; Traversi G.. - ELETTRONICO. - 3(2004), pp. 1368-1372. ((Intervento presentato al convegno 2004 IEEE Nuclear Science Symposium tenutosi a Rome, Italy nel October 16-22 2004.
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| Titolo: | Survey of noise performances and scaling effects in deep submicron CMOS devices from different foundries |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2004 |
| Rivista: | |
| Citazione: | Survey of noise performances and scaling effects in deep submicron CMOS devices from different foundries / Re V.; Manghisoni M.; Ratti L.; Speziali V.; Traversi G.. - ELETTRONICO. - 3(2004), pp. 1368-1372. ((Intervento presentato al convegno 2004 IEEE Nuclear Science Symposium tenutosi a Rome, Italy nel October 16-22 2004. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11571/200135 |
| ISBN: | 0780387007 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11571/200135
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