Survey of noise performances and scaling effects in deep submicron CMOS devices from different foundries / Re V.; Manghisoni M.; Ratti L.; Speziali V.; Traversi G.. - ELETTRONICO. - 3(2004), pp. 1368-1372. ((Intervento presentato al convegno 2004 IEEE Nuclear Science Symposium tenutosi a Rome, Italy nel October 16-22 2004.
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Titolo: | Survey of noise performances and scaling effects in deep submicron CMOS devices from different foundries |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2004 |
Rivista: | |
Citazione: | Survey of noise performances and scaling effects in deep submicron CMOS devices from different foundries / Re V.; Manghisoni M.; Ratti L.; Speziali V.; Traversi G.. - ELETTRONICO. - 3(2004), pp. 1368-1372. ((Intervento presentato al convegno 2004 IEEE Nuclear Science Symposium tenutosi a Rome, Italy nel October 16-22 2004. |
Handle: | http://hdl.handle.net/11571/200135 |
ISBN: | 0780387007 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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