Bulk damage in proton irradiated JFET transistors and charge preamplifiers on high resistivity silicon / Ratti L.; Dalla Betta G. F.; Manghisoni M.; Re V.; Speziali V.; Traversi G.; Candelori A.. - ELETTRONICO. - (2004), pp. 59-62. ((Intervento presentato al convegno 2nd SIRAD workshop tenutosi a Legnaro, Italy nel April 1-2 2004.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
Titolo: | Bulk damage in proton irradiated JFET transistors and charge preamplifiers on high resistivity silicon |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2004 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11571/22509 |
ISBN: | 8873370071 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.