Noise characterization of 130 nm and 90 nm CMOS technologies for analog front-end electronics / Manghisoni M.; Ratti L.; Re V.; Speziali V.; Traversi G.. - ELETTRONICO. - 1:(2007), pp. 214-218. ((Intervento presentato al convegno 2006 IEEE Nuclear Science Symposium tenutosi a San Diego, USA nel October 29 -November 4 2006 [10.1109/NSSMIC.2006.356142].
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Titolo: | Noise characterization of 130 nm and 90 nm CMOS technologies for analog front-end electronics | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2007 | |
Rivista: | ||
Handle: | http://hdl.handle.net/11571/28769 | |
ISBN: | 9781424405619 | |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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