CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishDesign and Measurements of Frequency Selective Surfaces on Silicon Substrates for Sub-mm Wave Applications / Bozzi Maurizio; Biber S.; Perregrini Luca; Schmidt L.-P.. - STAMPA. - (2006). ((Intervento presentato al convegno 22nd International Review of Progress in Applied Computational Electromagnetics (ACES 2006) tenutosi a Miami, Florida nel March 12-16, 2006.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
http://hdl.handle.net/11571/29542| Titolo: | Design and Measurements of Frequency Selective Surfaces on Silicon Substrates for Sub-mm Wave Applications |
| Autori interni: | BOZZI, MAURIZIO PERREGRINI, LUCA |
| Data di pubblicazione: | 2006 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11571/29542 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Copyright © 2017