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EnglishInvestigating degradation mechanisms in 130 nm and 90 nm commercial CMOS technologies exposed to up to 100 Mrad ionizing radiation dose / Ratti L.; Gaioni L.; Manghisoni M.; Traversi G.; Pantano D.. - STAMPA. - (2007), pp. 112-120. ((Intervento presentato al convegno 9th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2007 tenutosi a Deauville, France nel September 10-14 2007.
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| Titolo: | Investigating degradation mechanisms in 130 nm and 90 nm commercial CMOS technologies exposed to up to 100 Mrad ionizing radiation dose |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2007 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11571/32041 |
| ISBN: | 9781424417049 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
http://hdl.handle.net/11571/32041
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