IRIS

An Instrument for the Characterization of Voltage and Temperature Profile in NiCd nad NiMH Batteries

DANESE, GIOVANNI;LEPORATI, FRANCESCO;LOMBARDI, REMO ANGELO;
1997-01-01
1997
Proceedings 23rd Euromicro Conference
Computer Science & Engineering includes resources on computer hardware and architecture, computer software, software engineering and design, computer graphics, programming languages, theoretical computing, computing methodologies, broad computing topics, and interdisciplinary computer applications.
Sì, ma tipo non specificato
Inglese
contributo
23rd Euromicro Conference
1-4 September 1997
Budapest, Hungary
Internazionale
STAMPA
178
183
0818682159
IEEE Computer Society Press, Los Alamitos, California
voltage profile; temperature profile; NiCd and NiMH batteries
none
Danese, Giovanni; Leporati, Francesco; Lombardi, REMO ANGELO; Nucita, M.; Pedrazzini, G.; Ricotti, G.
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
6
4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
4.1 Contributo in Atti di convegno
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