Multilevel Lasso Applied to Virtual Metrology in Semiconductor Manufacturing / S. Pampuri; A. Schirru; G. Fazio; G. De Nicolao. - (2011). ((Intervento presentato al convegno Statistical methods applied in microelectronics tenutosi a Milano nel June 13, 2011.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
Titolo: | Multilevel Lasso Applied to Virtual Metrology in Semiconductor Manufacturing |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2011 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11571/1062986 |
Appare nelle tipologie: | 4.3 Poster |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.