Impact of parasitic elements on CMOS charge pumps: a numerical analysis / L. Gobbi; A. Cabrini; G. Torelli. - STAMPA. - (2006), pp. 3125-3128. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS '06) tenutosi a Kos (Greece) nel May 2006.
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Titolo: | Impact of parasitic elements on CMOS charge pumps: a numerical analysis |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2006 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11571/29298 |
ISBN: | 9780780393899 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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