CABRINI, ALESSANDRO
CABRINI, ALESSANDRO
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA INDUSTRIALE E DELL'INFORMAZIONE
2-Mb embedded phase change memory with 16-ns read access time and 5-Mb/s write throughput in 90-nm BCD technology for automotive applications
2019-01-01 Carissimi, M.; Zurla, R.; Auricchio, C.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Zanchi, S.; Rana, V.; Mishra, P.; Mukherjee, R.; Tyagi, V.; Disegni, F.; Manfrè, D.; Torti, C.; Gallinari, D.; Rossi, S.; Gambero, A.; Brambilla, D.; Zuliani, P.; Cabrini, A.; Torelli, G.; Pasotti, M.
2-Mb embedded phase change memory with 16-ns read access time and 5-Mb/s write throughput in 90-nm BCD technology for automotive applications
2019-01-01 Carissimi, M.; Zurla, R.; Auricchio, C.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Zanchi, S.; Rana, V.; Mishra, P.; Mukherjee, R.; Tyagi, V.; Disegni, F.; Manfre, D.; Torti, C.; Gallinari, D.; Rossi, S.; Gambero, A.; Brambilla, D.; Zuliani, P.; Cabrini, A.; Torelli, G.; Pasotti, M.
A 0.13-µm CMOS NOR Flash memory experimental chip for 4-b/cell digital storage
2002-01-01 R., Micheloni; O., Khouri; Gregori, Stefano; Cabrini, Alessandro; G., Campardo; L., Fratin; Torelli, Guido
A 1 V, 26 µW extended temperature range band-gap reference in 130-nm CMOS technology
2005-01-01 Cabrini, Alessandro; G., De Sandre; Gobbi, Laura; Malcovati, Piero; M., Pasotti; M., Poles; F., Rigoni; Torelli, Guido
A 1.2 V sense amplifier for high-performance embeddable NOR Flash memories
2005-01-01 Baderna, Davide; Cabrini, Alessandro; G., De Sandre; F., De Santis; M., Pasotti; Rossini, Andrea; Torelli, Guido
A 32-KB ePCM for real-time data processing in automotive and smart power applications
2018-01-01 Pasotti, M.; Zurla, R.; Carissimi, M.; Auricchio, C.; Brambilla, D.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Gallinari, D.; Mazzaglia, C.; Rana, V.; Cabrini, A.; Torelli, G.
A 32KB 18ns random access time embedded PCM with enhanced program throughput for automotive and smart power applications
2017-01-01 Pasotti, M.; Carissimi, M.; Auricchio, C.; Brambilla, D.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Gallinari, D.; Mazzaglia, C.; Rana, V.; Zurla, Riccardo; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A bipolar-selected phase-change memory featuring multi-level cell storage
2009-01-01 F., Bedeschi; R., Fackenthal; C., Resta; E. M., Donzé; M., Jagasivamani; E. C., Buda; F., Pellizzer; D. W., Chow; Cabrini, Alessandro; Calvi, GIACOMO MATTEO; Faravelli, Roberto; Fantini, Andrea; Torelli, Guido; D., Mills; R., Gastaldi; G., Casagrande
A charge pump with enhanced charge transfer for energy harvesting applications
2016-01-01 Cabrini, Alessandro; Zurla, Riccardo; Torelli, Guido
A charge transfer scheme for efficiency optimization in integrated charge pumps
2012-01-01 Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A circuit for linearly decreasing temperature SET programming of PCM based on Ge-rich GST
2015-01-01 Kiouseloglou, Athanasios; Covi, Erika; Navarro, G.; Cabrini, Alessandro; Perniola, L.; Torelli, Guido
A compact low-cost test equipment for thermal and electrical characterization of integrated circuits
2009-01-01 Cabrini, Alessandro; Gobbi, Laura; Baderna, Davide; Torelli, Guido
A comprehensive Verilog-A behavioral model of Spin-Transfer Torque memory cell
2016-01-01 Belay, YILKAL ANDUALEM; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A discussion on exponential gain charge pump
2007-01-01 Gobbi, Laura; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A failure analysis test structure for deep sub-micron CMOS copper interconnect technologies
2005-01-01 Cabrini, Alessandro; D., Cantarelli; P., Cappelletti; R., Casiraghi; D., Iezzi; A., Maurelli; M., Pasotti; P. L., Rolandi; Torelli, Guido
A multi-level-cell bipolar-selected phase-change memory
2008-01-01 F., Bedeschi; R., Fackenthal; C., Resta; E. M., Donzé; M., Jagasivamani; E., Buda; F., Pellizzer; D., Chow; Cabrini, Alessandro; Calvi, GIACOMO MATTEO; Faravelli, Roberto; Fantini, Andrea; Torelli, Guido; D., Mills; R., Gastaldi; G., Casagrande
A novel programming technique to boost low-resistance state performance in Ge-rich GST Phase Change Memory
2014-01-01 Kiouseloglou, Athanasios; G., Navarro; V., Sousa; A., Persico; A., Roule; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido; S., Maitrejean; G., Reimbold; B., De Salvo; F., Clermidy; L., Perniola
A small-size, fast-settling, low-cost thermal regulator for chip surface measurements
2004-01-01 Baderna, Davide; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A test chip for contact and via failure analysis for 90-nm copper interconnect CMOS technology
2003-01-01 Cabrini, Alessandro; P., Cappelletti; D., Iezzi; M., Pasotti; A., Maurelli; Torelli, Guido
A test structure for contact and via failure analysis in deep-submicrometer CMOS technologies
2006-01-01 Cabrini, Alessandro; D., Cantarelli; P., Cappelletti; R., Casiraghi; A., Maurelli; M., Pasotti; P. L., Rolandi; Torelli, Guido
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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2-Mb embedded phase change memory with 16-ns read access time and 5-Mb/s write throughput in 90-nm BCD technology for automotive applications | 1-gen-2019 | Carissimi, M.; Zurla, R.; Auricchio, C.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Zanchi, S.; Rana, V.; Mishra, P.; Mukherjee, R.; Tyagi, V.; Disegni, F.; Manfrè, D.; Torti, C.; Gallinari, D.; Rossi, S.; Gambero, A.; Brambilla, D.; Zuliani, P.; Cabrini, A.; Torelli, G.; Pasotti, M. | |
2-Mb embedded phase change memory with 16-ns read access time and 5-Mb/s write throughput in 90-nm BCD technology for automotive applications | 1-gen-2019 | Carissimi, M.; Zurla, R.; Auricchio, C.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Zanchi, S.; Rana, V.; Mishra, P.; Mukherjee, R.; Tyagi, V.; Disegni, F.; Manfre, D.; Torti, C.; Gallinari, D.; Rossi, S.; Gambero, A.; Brambilla, D.; Zuliani, P.; Cabrini, A.; Torelli, G.; Pasotti, M. | |
A 0.13-µm CMOS NOR Flash memory experimental chip for 4-b/cell digital storage | 1-gen-2002 | R., Micheloni; O., Khouri; Gregori, Stefano; Cabrini, Alessandro; G., Campardo; L., Fratin; Torelli, Guido | |
A 1 V, 26 µW extended temperature range band-gap reference in 130-nm CMOS technology | 1-gen-2005 | Cabrini, Alessandro; G., De Sandre; Gobbi, Laura; Malcovati, Piero; M., Pasotti; M., Poles; F., Rigoni; Torelli, Guido | |
A 1.2 V sense amplifier for high-performance embeddable NOR Flash memories | 1-gen-2005 | Baderna, Davide; Cabrini, Alessandro; G., De Sandre; F., De Santis; M., Pasotti; Rossini, Andrea; Torelli, Guido | |
A 32-KB ePCM for real-time data processing in automotive and smart power applications | 1-gen-2018 | Pasotti, M.; Zurla, R.; Carissimi, M.; Auricchio, C.; Brambilla, D.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Gallinari, D.; Mazzaglia, C.; Rana, V.; Cabrini, A.; Torelli, G. | |
A 32KB 18ns random access time embedded PCM with enhanced program throughput for automotive and smart power applications | 1-gen-2017 | Pasotti, M.; Carissimi, M.; Auricchio, C.; Brambilla, D.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Gallinari, D.; Mazzaglia, C.; Rana, V.; Zurla, Riccardo; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido | |
A bipolar-selected phase-change memory featuring multi-level cell storage | 1-gen-2009 | F., Bedeschi; R., Fackenthal; C., Resta; E. M., Donzé; M., Jagasivamani; E. C., Buda; F., Pellizzer; D. W., Chow; Cabrini, Alessandro; Calvi, GIACOMO MATTEO; Faravelli, Roberto; Fantini, Andrea; Torelli, Guido; D., Mills; R., Gastaldi; G., Casagrande | |
A charge pump with enhanced charge transfer for energy harvesting applications | 1-gen-2016 | Cabrini, Alessandro; Zurla, Riccardo; Torelli, Guido | |
A charge transfer scheme for efficiency optimization in integrated charge pumps | 1-gen-2012 | Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido | |
A circuit for linearly decreasing temperature SET programming of PCM based on Ge-rich GST | 1-gen-2015 | Kiouseloglou, Athanasios; Covi, Erika; Navarro, G.; Cabrini, Alessandro; Perniola, L.; Torelli, Guido | |
A compact low-cost test equipment for thermal and electrical characterization of integrated circuits | 1-gen-2009 | Cabrini, Alessandro; Gobbi, Laura; Baderna, Davide; Torelli, Guido | |
A comprehensive Verilog-A behavioral model of Spin-Transfer Torque memory cell | 1-gen-2016 | Belay, YILKAL ANDUALEM; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido | |
A discussion on exponential gain charge pump | 1-gen-2007 | Gobbi, Laura; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido | |
A failure analysis test structure for deep sub-micron CMOS copper interconnect technologies | 1-gen-2005 | Cabrini, Alessandro; D., Cantarelli; P., Cappelletti; R., Casiraghi; D., Iezzi; A., Maurelli; M., Pasotti; P. L., Rolandi; Torelli, Guido | |
A multi-level-cell bipolar-selected phase-change memory | 1-gen-2008 | F., Bedeschi; R., Fackenthal; C., Resta; E. M., Donzé; M., Jagasivamani; E., Buda; F., Pellizzer; D., Chow; Cabrini, Alessandro; Calvi, GIACOMO MATTEO; Faravelli, Roberto; Fantini, Andrea; Torelli, Guido; D., Mills; R., Gastaldi; G., Casagrande | |
A novel programming technique to boost low-resistance state performance in Ge-rich GST Phase Change Memory | 1-gen-2014 | Kiouseloglou, Athanasios; G., Navarro; V., Sousa; A., Persico; A., Roule; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido; S., Maitrejean; G., Reimbold; B., De Salvo; F., Clermidy; L., Perniola | |
A small-size, fast-settling, low-cost thermal regulator for chip surface measurements | 1-gen-2004 | Baderna, Davide; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido | |
A test chip for contact and via failure analysis for 90-nm copper interconnect CMOS technology | 1-gen-2003 | Cabrini, Alessandro; P., Cappelletti; D., Iezzi; M., Pasotti; A., Maurelli; Torelli, Guido | |
A test structure for contact and via failure analysis in deep-submicrometer CMOS technologies | 1-gen-2006 | Cabrini, Alessandro; D., Cantarelli; P., Cappelletti; R., Casiraghi; A., Maurelli; M., Pasotti; P. L., Rolandi; Torelli, Guido |