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CABRINI, ALESSANDRO

CABRINI, ALESSANDRO  

DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA INDUSTRIALE E DELL'INFORMAZIONE  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
2-Mb embedded phase change memory with 16-ns read access time and 5-Mb/s write throughput in 90-nm BCD technology for automotive applications 1-gen-2019 Carissimi, M.; Zurla, R.; Auricchio, C.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Zanchi, S.; Rana, V.; Mishra, P.; Mukherjee, R.; Tyagi, V.; Disegni, F.; Manfre, D.; Torti, C.; Gallinari, D.; Rossi, S.; Gambero, A.; Brambilla, D.; Zuliani, P.; Cabrini, A.; Torelli, G.; Pasotti, M.
2-Mb embedded phase change memory with 16-ns read access time and 5-Mb/s write throughput in 90-nm BCD technology for automotive applications 1-gen-2019 Carissimi, M.; Zurla, R.; Auricchio, C.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Zanchi, S.; Rana, V.; Mishra, P.; Mukherjee, R.; Tyagi, V.; Disegni, F.; Manfrè, D.; Torti, C.; Gallinari, D.; Rossi, S.; Gambero, A.; Brambilla, D.; Zuliani, P.; Cabrini, A.; Torelli, G.; Pasotti, M.
A 0.13-µm CMOS NOR Flash memory experimental chip for 4-b/cell digital storage 1-gen-2002 R., Micheloni; O., Khouri; Gregori, Stefano; Cabrini, Alessandro; G., Campardo; L., Fratin; Torelli, Guido
A 1 V, 26 µW extended temperature range band-gap reference in 130-nm CMOS technology 1-gen-2005 Cabrini, Alessandro; G., De Sandre; Gobbi, Laura; Malcovati, Piero; M., Pasotti; M., Poles; F., Rigoni; Torelli, Guido
A 1.2 V sense amplifier for high-performance embeddable NOR Flash memories 1-gen-2005 Baderna, Davide; Cabrini, Alessandro; G., De Sandre; F., De Santis; M., Pasotti; Rossini, Andrea; Torelli, Guido
A 32-KB ePCM for real-time data processing in automotive and smart power applications 1-gen-2018 Pasotti, M.; Zurla, R.; Carissimi, M.; Auricchio, C.; Brambilla, D.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Gallinari, D.; Mazzaglia, C.; Rana, V.; Cabrini, A.; Torelli, G.
A 32KB 18ns random access time embedded PCM with enhanced program throughput for automotive and smart power applications 1-gen-2017 Pasotti, M.; Carissimi, M.; Auricchio, C.; Brambilla, D.; Calvetti, E.; Capecchi, L.; Croce, L.; Gallinari, D.; Mazzaglia, C.; Rana, V.; Zurla, Riccardo; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A bipolar-selected phase-change memory featuring multi-level cell storage 1-gen-2009 F., Bedeschi; R., Fackenthal; C., Resta; E. M., Donzé; M., Jagasivamani; E. C., Buda; F., Pellizzer; D. W., Chow; Cabrini, Alessandro; Calvi, GIACOMO MATTEO; Faravelli, Roberto; Fantini, Andrea; Torelli, Guido; D., Mills; R., Gastaldi; G., Casagrande
A charge pump with enhanced charge transfer for energy harvesting applications 1-gen-2016 Cabrini, Alessandro; Zurla, Riccardo; Torelli, Guido
A charge transfer scheme for efficiency optimization in integrated charge pumps 1-gen-2012 Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A circuit for linearly decreasing temperature SET programming of PCM based on Ge-rich GST 1-gen-2015 Kiouseloglou, Athanasios; Covi, Erika; Navarro, G.; Cabrini, Alessandro; Perniola, L.; Torelli, Guido
A compact low-cost test equipment for thermal and electrical characterization of integrated circuits 1-gen-2009 Cabrini, Alessandro; Gobbi, Laura; Baderna, Davide; Torelli, Guido
A comprehensive Verilog-A behavioral model of Spin-Transfer Torque memory cell 1-gen-2016 Belay, YILKAL ANDUALEM; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A discussion on exponential gain charge pump 1-gen-2007 Gobbi, Laura; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A failure analysis test structure for deep sub-micron CMOS copper interconnect technologies 1-gen-2005 Cabrini, Alessandro; D., Cantarelli; P., Cappelletti; R., Casiraghi; D., Iezzi; A., Maurelli; M., Pasotti; P. L., Rolandi; Torelli, Guido
A multi-level-cell bipolar-selected phase-change memory 1-gen-2008 F., Bedeschi; R., Fackenthal; C., Resta; E. M., Donzé; M., Jagasivamani; E., Buda; F., Pellizzer; D., Chow; Cabrini, Alessandro; Calvi, GIACOMO MATTEO; Faravelli, Roberto; Fantini, Andrea; Torelli, Guido; D., Mills; R., Gastaldi; G., Casagrande
A novel programming technique to boost low-resistance state performance in Ge-rich GST Phase Change Memory 1-gen-2014 Kiouseloglou, Athanasios; G., Navarro; V., Sousa; A., Persico; A., Roule; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido; S., Maitrejean; G., Reimbold; B., De Salvo; F., Clermidy; L., Perniola
A small-size, fast-settling, low-cost thermal regulator for chip surface measurements 1-gen-2004 Baderna, Davide; Cabrini, Alessandro; Torelli, Guido
A test chip for contact and via failure analysis for 90-nm copper interconnect CMOS technology 1-gen-2003 Cabrini, Alessandro; P., Cappelletti; D., Iezzi; M., Pasotti; A., Maurelli; Torelli, Guido
A test structure for contact and via failure analysis in deep-submicrometer CMOS technologies 1-gen-2006 Cabrini, Alessandro; D., Cantarelli; P., Cappelletti; R., Casiraghi; A., Maurelli; M., Pasotti; P. L., Rolandi; Torelli, Guido