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GUIZZETTI, GIORGIO

GUIZZETTI, GIORGIO  

DIPARTIMENTO DI FISICA  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A new method for the determination of ΔEC in heterojunctions 1-gen-1972 Guizzetti, Giorgio; E., Reguzzoni; G., Samoggia
All optical switching in silicon on insulator photonic wire nanocavities 1-gen-2009 Belotti, Michele; Galli, Matteo; Gerace, Dario; Andreani, Lucio; Guizzetti, Giorgio; A. R., Mdzain; N. P., Johnson; M., Sorel; R. M., De La Rue
All-optical switching in Silicon-on-Insulator photonic wire nanocavities 1-gen-2010 Belotti, Michele; Galli, Matteo; Gerace, Dario; Andreani, Lucio; Guizzetti, Giorgio; Md Zain, A.; Johnson, N. P.; Sorel, M.; De la Rue, R.
Analysis of infrared optical transitions in graphite 1-gen-1975 G., Bellodi; A., Borghesi; Guizzetti, Giorgio; L., Nosenzo; E., Reguzzoni; G., Samoggia
Analysis of infrared thermoreflectance spectra of NbxTi1−xS2 1-gen-1982 A., Borghesi; Guizzetti, Giorgio; A., Stella; E., Reguzzoni; F., Levy
Anisotropic optical response in beta-FeSi2 single crystals and thin films 1-gen-1996 Bocelli, S.; Guizzetti, Giorgio; Marabelli, Franco; Parravicini, G. B.; Patrini, Maddalena; Henrion, W.; Lange, H.; Tomm, Y.
Atomic nodal orbital radii: fundamental parameters for molecules and solids 1-gen-1982 W., Andreoni; A., Baldereschi; Guizzetti, Giorgio
Bloch surface wave polaritons at room temperature 1-gen-2015 Pirotta, S.; Patrini, M.; Liscidini, M.; Galli, M.; Dacarro, G.; Guizzetti, G.; Comoretto, D.; Bajoni, D.
Bloch Surface Waves Polaritons 1-gen-2013 Pirotta, Stefano; Dacarro, Giacomo; Patrini, Maddalena; Galli, Matteo; Guizzetti, Giorgio; Liscidini, Marco; G., Canazza; D., Comoretto; Bajoni, Daniele
Bulk and surface in a-C:H films 1-gen-1996 F., De Michelis; M., Fontaine; Guizzetti, Giorgio; J. M., Layet; Patrini, Maddalena; A., Rizzi; A., Tagliaferro; C., de Martino
CH3NH3SnxPb1-xBr3 Hybrid Perovskite Solid Solution: Synthesis, Structure, and Optical Properties 1-gen-2015 Mancini, Alessandro; Quadrelli, Paolo; Milanese, Chiara; Patrini, Maddalena; Guizzetti, Giorgio; Malavasi, Lorenzo
Channeling and optical measurement of high current density As-implanted Silicon 1-gen-1985 S. U., Campisano; E., Rimini; A., Borghesi; Guizzetti, Giorgio; L., Nosenzo; A., Stella
Characterization of impurities in silicon by IR spectroscopy 1-gen-1989 A., Borghesi; Geddo, Mario; Guizzetti, Giorgio; A., Stella; P., Geranzani
Characterization of InP/GaInAs superlattices by spectroscopic ellipsometry 1-gen-1993 Marco, Amiotti; Guizzetti, Giorgio; Patrini, Maddalena; Gunnar, Landgren
Characterization of Ion-Implanted Heavily-Doped Silicon by Optical Reflection 1-gen-1988 A., Borghesi; Guizzetti, Giorgio; L., Nosenzo
Damage analysis and optical properties of Ge-implanted silicon 1-gen-1990 A., Borghesi; A., Piaggi; A., Stella; Guizzetti, Giorgio; D., Bisero; G., Queirolo
Demonstration of surface enhanced raman scattering in purely dielectric structures via bloch surface waves 1-gen-2013 Liscidini, Marco; Pirotta, Stefano; X., Xu; A., Delfan; S., Mysore; S., Maiti; Dacarro, Giacomo; Patrini, Maddalena; Galli, Matteo; Guizzetti, Giorgio; Bajoni, Daniele; J., Sipe; G., Walker
DIagnostica ottica dei materiali: alcuni esempi 1-gen-1989 A., Borghesi; Geddo, Mario; Guizzetti, Giorgio; L., Nosenzo; A., Stella
Direct measurement of refractive index dispersion of transparent media by white-light interferometry 1-gen-2003 Galli, Matteo; Marabelli, Franco; Guizzetti, Giorgio
Disorder and strain effects in the optical response of thin CoSi epitaxial films on Si(111) 1-gen-1996 Bocelli, S.; Guizzetti, Giorgio; Marabelli, Franco; Schwarz, C.; Goncalves Conto, S.; Von Kanel, H.