CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishMultilevel kernel methods for virtual metrology in semiconductor manufacturing / Schirru Andrea; Pampuri Simone; De Luca Cristina; De Nicolao Giuseppe. - ELETTRONICO. - (2011), pp. 11614-11621. ((Intervento presentato al convegno 18th IFAC World Congress tenutosi a Milano nel 28 Agosto-2 Settembre 2011.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
| Titolo: | Multilevel kernel methods for virtual metrology in semiconductor manufacturing |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2011 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11571/319506 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Copyright © 2018